ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に関する第1回勉強会

目的:

盛り上がりつつある国内のソフトエラーなどのLSIにおける放射線効果に関する研究者間の情報交換, 懇親.

日時

2011年9月7日 13:00 -9月8日 12:15 (予定)

会場

京都工芸繊維大学, 60周年記念館 (京都市左京区松ヶ崎御所海道町, 中央東門のすぐ南です), ランチマップ, ラーメンマップ(昨年9月現在)

参加費

無料(ただし懇親会は有料)

発表の取り扱い

発表内容は下記のWEB掲載のものを除き, 非公開と致します.

プログラム(最終版)

9/7(水)

13:00-13:10

開会の挨拶

セッション1: 対ソフトエラーFF/メモリ技術, 座長 小林和淑(京都工芸繊維大学)

13:10-14:00

"ソフトエラー評価技術・対策技術の研究開発戦略", 上村大樹(富士通セミコンダクター)

14:00-14:25

"MCU耐性を強化した耐ソフトエラーFF", 山本亮輔(京都工芸繊維大学)

14:25-14:50

"マルチビットアップセット耐性及びシングルビットアップセット耐性を備えた8T SRAMセルレイアウト", 吉本秀輔(神戸大学)

14:50-15:15

"超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価", 橋本昌宜(大阪大学)

セッション2: ソフトエラーシミュレーション技術, 座長 橋本昌宜(大阪大学)

15:30-15:55

"MCBIモード中性子ソフトエラーのモンテカルロシミュレーションモデルの検討", 谷口　斉(（株）日立製作所　横浜研究所)

15:55-16:20

"宇宙線中性子起因ソフトエラーに対するマルチスケールシミュレーション(I) 概要および初期物理過程の考察", 渡辺幸信(九州大学)

16:20-16:55

"宇宙線中性子起因ソフトエラーに対するマルチスケールシミュレーション(II) PHITS-HyENEXSS連携計算システムの構築と応用", 安部晋一郎(九州大学)

16:55-17:20

"ソフトエラー対策用EDAツールの開発", 松永　裕介(九州大学)

ポスターセッション 17:30-18:30

1. "MCU耐性を強化した耐ソフトエラーFF", 山本亮輔(京都工芸繊維大学)
2. "PHITSを用いたSRAMのSER評価フローの開発とその応用", 天下卓郎(神戸大学)
3. "ソフトエラー対策用EDAツールの開発", 松永　裕介(九州大学)
4. "耐ソフトエラー性を有する製造テスト容易化設計", 難波 一輝(千葉大学)
5. "ビットエラー耐性及びソフトエラー耐性を備えたFD-SOI 7T/14T SRAM", 吉本秀輔(神戸大学)
6. "65nmプロセスによる耐ソフトエラーFFの性能比較評価", 久保田勘人(京都工芸繊維大学)
7. "冗長/非冗長化FFによる多重化プロセッサのソフトエラー耐性評価", 岡田翔伍(京都工芸繊維大学)
8. "冗長化フリップフロップを用いた集積回路のエラー耐性向上", 増田政基(京都工芸繊維大学)
9. "SENTAURUSを用いたデバイスレベルソフトエラーシミュレーション", 張魁元(京都工芸繊維大学)
10. "耐過渡故障性を指向した高位合成における演算器バインディング", 大窪涼子(広島市立大学)
11. "SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システム", 森　拓馬(広島市立大学)

懇親会 18:30-20:30

一般4000円, 学生2000円の参加費を予定しております.

9/8(木)

セッション3: 国際会議報告/放射線効果試験方法, 座長 小野寺秀俊(京都大学)

9:00-10:00

"ソフトエラー研究に関する最新動向と日立の取り組み-　２０１１年の国際学会動向　-", 伊部　英史(日立・横浜研究所)

10:00-10:25

"半導体に対する三つの放射線影響とその照射試験", 小野田忍(日本原子力研究開発機構)

セッション4: SETパルス測定, 座長 上村大樹 (富士通セミコンダクター)

10:40-11:05

"SOI-CMOSデバイスにおける放射線ノイズ", 小林大輔(JAXA)

11:05-11:30

"バッファチェインにおけるパルス幅縮小現象を利用したSETパルス幅測定回路", 古田潤(京都大学)

11:30-11:55

" 耐SET技術開発・SET誤動作率トレンド予測", 中村英之(ルネサス エレクトロニクス), 関連情報

閉会(今後の開催など) 11:55-12:15

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Last modified: Mon Jul 30 05:34:44 JST 2012