小林研究室 博士論文/修士論文/卒業研究報告書一覧

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博士論文

年度名前タイトル
2021横山佳巧Design Optimization for Low-power and Highly Reliable Embedded SRAMs on Advanced CMOS Platforms,pdf
2021五十嵐 満彦A Study of BTI-Induced Variability and Highly Sensitive On-Chip Digital Aging Monitor for High Reliability,pdf
2017岸田 亮ゲート酸化膜欠陥に起因する集積回路の信頼性と実測評価,pdf
2015張 魁元A Study to Evaluate and Project Soft Error Tolerance in Radiation-hardened Circuits Using Device and Physical Level Simulations,pdf
2014藪内美智太郎Study of Design Methodology of ASIC and FPGA Considering Correlation between Process Variation and BTI-Induced Degradation,pdf
2013古田潤 [京都大学博士(情報学)]集積回路におけるシングルイベント効果の評価と ソフトエラー耐性向上手法の提案,pdf

修士論文

年度名前タイトル
2023杉谷 昇太郎地上および宇宙向け耐ソフトエラーフリップフロップの提案と実測評価
2023水嶋 雅駿SiCパワーMOSFETのトータルドーズ効果と高ゲートバイアス印加による回復現象の実測評価
2023菊田 大輔65 nm Bulkプロセスで設計した同一の回路構造のRing Oscillatorを用いたBTI劣化の実測評価
2023上林 幹宜中性子照射による加速試験と富岳を用いたフィールド試験によるDRAMのソフトエラーの実測評価
2023高⻄ 諒量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシートMOSFETのしきい値電圧定義の研究
2023美濃 泰英量子デバイスシミュレーションを用いたInGaAsナノシート構造MOSFETにおける量子閉じ込め効果の解析
2022小谷 萌香バルクプロセスにおけるPHITS-TCADを用いたソフトエラー耐性評価手法の提案
2022木下 友晴FPGAとマイコンを用いたリングオシレータのBTIによる超長期経年劣化の実測とそのモデル化
2022阿部 佑貴間欠動作を行うIoT向けプロセッサに適したFiCCを用いた不揮発ストレージセル
2022伊藤 貴史単一ノード反転に強靭な宇宙機向け多重化耐ソフトエラーフリップフロップ
2022松田 将量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシート構造の設計に向けたシミュレーション解析の研究
2022野池 峻平オーバーシュートとスイッチング損失を低減するSiC MOSFET向けアクティブゲートドライバ
2022中島 隆一各種放射線によるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価
2022高橋 岳大全電力帯で最適なゲートドライブを実現するGaN HEMT 向け3レベルゲートドライバ
2022後藤 春樹 高移動度材料 n-MOSFETの 量子デバイスシミュレーョンに関する研究
2021記伊 智也遅延のオーバーヘッドの小さいガードゲート型フリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価
2021須田 郁生65nmFDSOI構造における一定の回路性能となる供給電圧と基板バイアスの制御による経年劣化の抑制
2021胡 泊洋書き込み回数及び温度変化による3次元構造NANDフラッシュメモリの信頼性
2021南部 玄測定機器のEMI削減によるGaN HEMT向けゲートドライバを用いた降圧コンバータの放射ノイズ測定
2021松本 隆洋各種放射線源によるFPGAのソフトエラー率の測定
2021木村 太建量子ドリフト拡散モデルのためのスクリーニング効果を考慮した移動度モデルの研究
2021木下 信一朗量子デバイスシミュレーションのための高移動材料のデバイスパラメータの研究
2021浦部 孝樹FiCCを用いたIoT向け9T1C不揮発SRAMの設計と実測
2020足助 拓哉環境変動を取り除くスターブ型リングオシレータを用いた経年劣化の実測評価とモデル化
2020伊藤 大貴量子ドリフト拡散モデルにおける量子ポテンシャルモデルの評価と検討
2020田宮 優希量子ドリフト拡散モデルにおける歪みSiの低電界電子移動度モデルの検討
2020吉田 高士65 nm 薄膜BOX FDSOIプロセスで試作したリングオシレータによるトータルドーズ効果の実測評価
2020吉岡 大貴ソフトスイッチングにより放射EMIを低減するワイドバンドギャップ半導体に適した昇圧型DC-DCコンバータ
2020森 風馬デバイスシミュレーションを用いた複数ノード反転に強靭な耐放射線フリップフロップの設計と実測評価
2020長尾 詢一郎単一電源で3レベルのゲート電圧制御が可能なGaN HEMT向けゲートドライバの集積化
2020河野 雄哉ソフトエラー耐性を高めたRISC-Vプロセッサの設計とその実測評価
2019小高 孔頌(東京理科大学兵庫研究室)減算により環境変動除去可能なリングオシレータ を用いた集積回路の経年劣化評価と評価回路の検討
2019榎原 光則異なる回路構造・製造プロセス・プロセスノードにより設計・試作した耐ソフトエラーフリップフロップの評価
2019附田 悠人65nm FDSOI/Bulkプロセスで試作した宇宙機用耐ソフトエラーフリップフロップの実測評価
2019小島 健太郎65 nm FDSOIプロセスにおけるソフトエラー耐性のデバイスシミュレーションによる評価と向上手法の検討
2019中野 洋希FPGAとマイコンを用いた測定系によるリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価
2019保坂 巧(埼玉大学伊藤研究室)単発DCストレス測定によるMOSトランジスタの NBTI起因AC特性を再現可能なモデルの開発
2018山下 夕貴Monolithic Integration of Gate Driver and p-gate GaN Power HEMT for MHz-Switching
2018亀井 達也主要応答時定数を用いたデバイスシミュレーョンの高速化
2018山田晃大FDSOIを用いた耐放射線フリップフロップの設計法の提案と実測評価
2017丸岡 晴喜FDSOI に適した耐ソフトエラー 低電力フリップフロップの 実測・評価と耐性向上手法の提案
2017駒脇 拓弥集積回路におけるランダムテレグラフノイズのモデル化と実測による評価
2017稲森 奨SiCパワーMOSFETの13.56MHzスイッチング動作に向けた共振型ゲートドライバ
2016Mo FeiGate Driver with Switched Capacitor for SiC MOSFET at 13.56 MHz ISM Band
2016一二三 潤FDSOIプロセスにおけるレイアウ ト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
2016梅原 成宏PHITS-TCAD による28nm FDSOI と22nm FinFET プロセスにお けるソフトエラー耐性の評価
2015大島 梓リングオシレータ回路におけるランダムテレグラフノイズの実測・モデル化とアンテナダメージの実測評価
2015山口 潤己65nm薄膜BOX FD-SOIプロセスにおける耐ソフトエラー非冗長化FFの実測と評価
2015 曽根崎 詠二65 nm Thin BOX FD-SOI およびバルクプロセスにおけるシングルイベント効果 の実測と評価
2014神田 翔平28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるFFのソフトエラー耐性評価
2014岸田 亮薄膜BOX-FDSOIとバルクでのアンテナダメージによる初期および経年劣化の測定と評価
2013谷弘 脩一段数・温度・電圧による経年劣化現象の実測とモデル化
2013万沢 勇貴薄膜BOX-SOIとバルクプロセスを用いた耐ソフトエラーフリップフロップの実測と評価
2012張 魁元デバイスシミュレーションによる冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の分析
2012石井 翔平再構成可能集積回路の製造時のばらつきと温度と電圧で加速させた条件でのBTI による経年劣化の実測評価
2012久保田勘人65nmプロセスにおける低電力かつ省面積な耐ソフトエラーフリップフロップの設計と評価
2012岡田 翔伍一時故障/永久故障に強靭な多重化パイプラインプロセッサの設計
2012増田 政基65 nmプロセスにおける低電力耐ソフトエラー冗長化フリップフロップの設計と実測による評価
2011籔内 美智太郎再構成可能集積回路における経年劣化現象の解析と回路構造による補償手法
2011山本亮輔回路とレイアウト最適化による多重化フリップフロップのソフトエラー耐性向上手法
2010濱中 力耐ソフトエラー多重化フリップフロップのばらつき評価

卒業研究報告書

年度名前タイトル
2023森口 悠斗マルチラベル分類によるアナログ集積回路の自動合成
2023谷口 真極低温環境下における65nmバルクプロセス業界標準トランジスタモデルの評価
2023仁科 拓⺒バルク構造のリングオシレータを用いたBTIによる⻑期経年劣化の実測評価
2023浦田 涼雅ガウス過程回帰に基づく薄膜強誘電体メムキャパシタのデバイスモデル化と評価
2023臼井 健悟極低温動作DACにおけるフィルタに向けたVCIIの開発
2023塘 仁一郎量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシート構造ドレイン電流のシート幅依存性のモデリング
2023和田 滉平遺伝的アルゴリズムを用いたネットリストからオペアンプ回路描画の実現
2023鎌谷 衛量子ドリフト拡散モデルによるナノシート構造の実効チャネル⻑の解析
2023平田 晟生ブートストラップ回路が不要な GaN HEMT 向けゲートドライバの設計と実測評価
2023小山 雄輝量子コンピュータ制御装置のASIC化に向けた高速信号受信処理回路の提案
2023中本 耀パワー半導体におけるバーンアウト発生メカニズムの解析
2022五枝 大典量産LSIテストデータを用いたガウス過程回帰に基づく適応的良品判定法の評価
2022小澤 太希NANDフラッシュメモリにおけるガンマ線によるトータルドーズ効果の実測評価
2022岩崎 哲朗メモリスタを用いた超次元コンピューティング推論アクセラレータの高信頼化に関する検討
2022青山 連誤り耐性量子コンピュータ向け復号器の設計
2022伊東 龍平量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシートデバイスの実効チャネル幅解析手法の研究
2022熊田 翔回路設計者が行う回路シミュレーション開発フローの検討
2022吉田 圭汰デバイスシミュレーションによる耐ソフトエラーフリップフロップの耐性評価
2022山本 和弥モデルベース強化学習を用いた二段増幅回路の素子値決定
2022森 日菜子量子ドリフト拡散モデルによるフォークシート構造の電気特性解析
2022堀川 輝遺伝的プログラミングを用いた真理値表を満たすデジタル回路の自動合成
2022細田 光星量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシートデバイスの設計手法の研究
2022平井 駿三朗ナノシート構造に対応した量子閉じ込め効果の理論解析手法の研究
2022武久 拓未誤点弧防止とデッドタイム損失低減を両立するGaN HEMT向け3レベルゲートドライバ
2022高谷 彩乃ファインチューニングを用いた自己符号化器による逐次LSIテストに向けた検討
2022杉崎 春斗組み合わせ回路と記憶素子で発生するソフトエラーを動的に測定する回路構造の提案
2021美濃 泰英量子ドリフト拡散モデルよるナノシートデバイスの電子濃度分布解析
2021上林 幹宜FPGAによるDDR4 DRAMのソフトエラー耐性の実測評価
2021榧木 亮誤点弧対策と損失低減を両立するGaN HEMT向け3レベルゲートドライバの評価
2021菊田 大輔65nm FDSOI構造における異なるしきい値電圧とゲート幅を持つMOSFETの経年劣化の実測評価
2021杉谷 昇太郎65nm bulkプロセスにおける耐ソフトエラーフリップフロップの回路シミュレーションによる耐性評価と改善方法の検討
2021水嶋 雅駿SiCパワーMOSFETのトータルドーズ効果と回復現象のα線による実測評価
2021高西 諒量子ドリフト拡散モデルによるナノシートデバイスのゲート電極材料の検討
2020阿部 佑貴FiCCを用いた不揮発スタンダードセルメモリの設計と実測評価
2020伊藤 貴史65 nm Bulkプロセスによる耐ソフトエラーフリップフロップの実測評価
2020野池 峻平アクティブゲートドライバ向けサージ電圧測定用回路の設計と実測評価
2020後藤 春樹デバイスシミュレーションによるInGaAs-MOSFETの特性解析
2020中島 隆一130 nm bulkプロセスによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価とその改善回路の提案
2020高橋 岳大単一の電源と制御信号でマルチレベルのゲート電圧制御が可能なGaN HEMT向けゲートドライバ
2020小谷 萌香TCADを用いた回路とレイアウト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2020木下 友晴FPGAとマイコンによる微細プロセスLSIの超長期経年劣化の実測評価
2019浦部 孝樹SONOS Flashセルを用いた不揮発SRAMの回路シミュレーションによる特性解析
2019南部 玄放射ノイズ低減のためのスナバ回路を用いた降圧型DC-DCコンバータの実測評価
2019須田 郁生65 nm FDSOI構造における異なるしきい値電圧をもつMOSFETの経年劣化の実測評価
2019松本 隆洋エラー訂正機構を有するSRAM型FPGAのソフトエラー耐性の実測評価
2019記伊 智也遅延と面積のオーバヘッドの小さいFDSOI向け耐ソフトエラーフリップフロップの実測評価
2018長尾詢一郎SiCパワーMOSFETのMHzスイッチングに向けた共振型ゲートドライバ
2018足助拓哉環境変動を打ち消すリングオシレータを用いた経年劣化の実測評価
2018吉岡大貴スナバ回路を用いたソフトスイッチングによる昇圧型DC-DCコンバータの実測評価
2018河野雄哉SRAM型とフラッシュメモリ型FPGAのソフトエラー耐性の評価
2018吉田高士α線による集積回路のトータルドーズ効果と回復現象の実測評価
2018森風馬TCADを用いたFDSOIとbulk構造におけるトランジスタ特性とソフトエラー耐性の比較
2017榎原 光則トランジスタしきい値とプロセスノードによるソフトエラー耐性の実測評価
2017小島 健太郎デバイスシミュレーションを用いたトランジスタしきい値の違いによる静特性とソフトエラー耐性の評価
2017附田 悠人耐ソフトエラーフリップフロップを用いた宇宙機用高信頼FPGAの検討
2017中野 洋希低電力で高信頼な長期経年劣化評価用測定系の設計
2017中村 遥香FPGAとマイコンで制御する小型かつ低電力なBTI評価用チップ測定系の定電圧電源回路の検討
2016山下 夕貴Ringing Suppression for MHz-Switching of SiC Power MOSFET
2016亀井 達也Matrix Exponential法を用いたパワーMOSFETの過渡解析の高速化
2016山田 晃大TCADを用いたFDSOIプロセスにおける耐ソフトエラー回路構造の評価
2015駒脇 拓弥FDSOI プロセスにおけるアンテナダメージとランダムテレグラフノイズの測定と評価
2015稲森 奨13.56MHz スイッチング動作に向けた SiC MOSFET と JFET の動特性の評価
2015丸岡 晴喜 SOI に適した低消費電力でかつソフトエラーに強靭な FF の提案と評価
2014一二三 潤28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるソフトエラー測定のためのレーザー照射用シフトレジスタの設計
2014梅原 成宏28nm UTBB FD-SOI プロセスにおけるソフトエラー耐性の評価
2014周 瑞高速スイッチングのためのSiCパワー半導体の静特性と動特性の評価
2013大島 梓リングオシレータの発振周波数変動によるアンテナダメージとBTIの実測評価とそのモデル化
2013山口 潤己回路構造と動作条件によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2013曽根崎 詠二リングオシレータ型測定回路を用いた中性子起因SETパルス幅の実測と評価
2012竹内 克行重イオンカクテルビームを用いた冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2012神田 翔平65nm薄膜BOX SOIプロセスによる冗長化FFの設計
2012岸田 亮表面ポテンシャルモデルを用いたトランジスタの経年劣化の評価
2012近藤 秀弥65nm薄膜BOX SOIを用いたマイコンチップの設計
2011村上 賢秀重イオンビームによる冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2011谷弘 脩一NBTIによるリング型発振器の発振周波数劣化の実測評価
2011松永 高明(先端技術課程)オペアンプを用いたヘッドホンアンプの製作と特性評価
2011万沢 勇貴完全空乏型SOI技術による集積回路のソフトエラー耐性評価
2010岡田翔伍信頼性向上を目的とした多重パイプラインプロセッサのLSI実装
2010松下諒多(先端技術課程)様々なデジタルオーディオフォーマットの音質の比較に関する研究
2010青本和也マイコン制御サーボモータによるLSIテスタの遠隔再起動に関する研究
2010石井翔平リングオシレータを用いた商用FPGAのばらつき測定
2010増田政基0.18μmプロセスによる耐ソフトエラーフリップフロップのライブラリ化
2009小宮山敦史ばらつき評価用リングオシレータTEGの効率的なテスト手法の構築
2009森永洋介白色中性子ビームによる加速試験を用いたSRAMソフトエラーの測定および評価
2009籔内美智太郎NBTIによるFPGAの性能劣化モデルの評価
2009久保田勘人CMOS0.18μmプロセスによるDUTボード検証兼教育用LSIの設計