| 年度 | 名前 | タイトル |
| 2022 | 野池 峻平 | オーバーシュートとスイッチング損失を低減するSiC MOSFET向けアクティブゲートドライバ |
| 2022 | 中島 隆一 | 各種放射線によるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価 |
| 2022 | 高橋 岳大 | 全電力帯で最適なゲートドライブを実現するGaN HEMT 向け3レベルゲートドライバ |
| 2022 | 後藤 春樹 | 高移動度材料 n-MOSFETの 量子デバイスシミュレーョンに関する研究 |
| 2022 | 小谷 萌香 | バルクプロセスにおけるPHITS-TCADを用いたソフトエラー耐性評価手法の提案 |
| 2022 | 木下 友晴 | FPGAとマイコンを用いたリングオシレータのBTIによる超長期経年劣化の実測とそのモデル化 |
| 2022 | 伊藤 貴史 | 単一ノード反転に強靭な宇宙機向け多重化耐ソフトエラーフリップフロップ |
| 2022 | 阿部 佑貴 | 間欠動作を行うIoT向けプロセッサに適したFiCCを用いた不揮発ストレージセル |
| 2022 | 松田 将 | 量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシート構造の設計に向けたシミュレーション解析の研究 |
| 2021 | 浦部 孝樹 | FiCCを用いたIoT向け9T1C不揮発SRAMの設計と実測 |
| 2021 | 須田 郁生 | 65nmFDSOI構造における一定の回路性能となる供給電圧と基板バイアスの制御による経年劣化の抑制 |
| 2021 | 胡 泊洋 | 書き込み回数及び温度変化による3次元構造NANDフラッシュメモリの信頼性 |
| 2021 | 南部 玄 | 測定機器のEMI削減によるGaN HEMT向けゲートドライバを用いた降圧コンバータの放射ノイズ測定 |
| 2021 | 松本 隆洋 | 各種放射線源によるFPGAのソフトエラー率の測定 |
| 2021 | 木村 太建 | 量子ドリフト拡散モデルのためのスクリーニング効果を考慮した移動度モデルの研究 |
| 2021 | 木下 信一朗 | 量子デバイスシミュレーションのための高移動材料のデバイスパラメータの研究 |
| 2021 | 記伊 智也 | 遅延のオーバーヘッドの小さいガードゲート型フリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価 |
| 2020 | 吉岡 大貴 | ソフトスイッチングにより放射EMIを低減するワイドバンドギャップ半導体に適した昇圧型DC-DCコンバータ |
| 2020 | 田宮 優希 | 量子ドリフト拡散モデルにおける歪みSiの低電界電子移動度モデルの検討 |
| 2020 | 足助 拓哉 | 環境変動を取り除くスターブ型リングオシレータを用いた経年劣化の実測評価とモデル化 |
| 2020 | 河野 雄哉 | ソフトエラー耐性を高めたRISC-Vプロセッサの設計とその実測評価 |
| 2020 | 伊藤 大貴 | 量子ドリフト拡散モデルにおける量子ポテンシャルモデルの評価と検討 |
| 2020 | 長尾 詢一郎 | 単一電源で3レベルのゲート電圧制御が可能なGaN HEMT向けゲートドライバの集積化 |
| 2020 | 森 風馬 | デバイスシミュレーションを用いた複数ノード反転に強靭な耐放射線フリップフロップの設計と実測評価 |
| 2020 | 吉田 高士 | 65 nm 薄膜BOX FDSOIプロセスで試作したリングオシレータによるトータルドーズ効果の実測評価 |
| 2019 | 中野 洋希 | FPGAとマイコンを用いた測定系によるリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価 |
| 2019 | 榎原 光則 | 異なる回路構造・製造プロセス・プロセスノードにより設計・試作した耐ソフトエラーフリップフロップの評価 |
| 2019 | 附田 悠人 | 65nm FDSOI/Bulkプロセスで試作した宇宙機用耐ソフトエラーフリップフロップの実測評価 |
| 2019 | 小島 健太郎 | 65 nm FDSOIプロセスにおけるソフトエラー耐性のデバイスシミュレーションによる評価と向上手法の検討 |
| 2019 | 保坂 巧(埼玉大学伊藤研究室) | 単発DCストレス測定によるMOSトランジスタの NBTI起因AC特性を再現可能なモデルの開発 |
| 2019 | 小高 孔頌(東京理科大学兵庫研究室) | 減算により環境変動除去可能なリングオシレータ を用いた集積回路の経年劣化評価と評価回路の検討 |
| 2018 | 山田晃大 | FDSOIを用いた耐放射線フリップフロップの設計法の提案と実測評価 |
| 2018 | 山下 夕貴 | Monolithic Integration of Gate Driver and p-gate GaN Power HEMT for MHz-Switching |
| 2018 | 亀井 達也 | 主要応答時定数を用いたデバイスシミュレーョンの高速化 |
| 2017 | 稲森 奨 | SiCパワーMOSFETの13.56MHzスイッチング動作に向けた共振型ゲートドライバ |
| 2017 | 駒脇 拓弥 | 集積回路におけるランダムテレグラフノイズのモデル化と実測による評価 |
| 2017 | 丸岡 晴喜 | FDSOI に適した耐ソフトエラー 低電力フリップフロップの 実測・評価と耐性向上手法の提案 |
| 2016 | Mo Fei | Gate Driver with Switched Capacitor for SiC MOSFET at 13.56 MHz ISM Band |
| 2016 | 一二三 潤 | FDSOIプロセスにおけるレイアウ ト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価 |
| 2016 | 梅原 成宏 | PHITS-TCAD による28nm FDSOI と22nm FinFET プロセスにお けるソフトエラー耐性の評価 |
| 2015 | 曽根崎 詠二 | 65 nm Thin BOX FD-SOI およびバルクプロセスにおけるシングルイベント効果 の実測と評価 |
| 2015 | 大島 梓 | リングオシレータ回路におけるランダムテレグラフノイズの実測・モデル化とアンテナダメージの実測評価 |
| 2015 | 山口 潤己 | 65nm薄膜BOX FD-SOIプロセスにおける耐ソフトエラー非冗長化FFの実測と評価 |
| 2014 | 神田 翔平 | 28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるFFのソフトエラー耐性評価 |
| 2014 | 岸田 亮 | 薄膜BOX-FDSOIとバルクでのアンテナダメージによる初期および経年劣化の測定と評価 |
| 2013 | 谷弘 脩一 | 段数・温度・電圧による経年劣化現象の実測とモデル化 |
| 2013 | 万沢 勇貴 | 薄膜BOX-SOIとバルクプロセスを用いた耐ソフトエラーフリップフロップの実測と評価 |
| 2012 | 岡田 翔伍 | 一時故障/永久故障に強靭な多重化パイプラインプロセッサの設計 |
| 2012 | 張 魁元 | デバイスシミュレーションによる冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の分析 |
| 2012 | 石井 翔平 | 再構成可能集積回路の製造時のばらつきと温度と電圧で加速させた条件でのBTI による経年劣化の実測評価 |
| 2012 | 久保田勘人 | 65nmプロセスにおける低電力かつ省面積な耐ソフトエラーフリップフロップの設計と評価 |
| 2012 | 増田 政基 | 65 nmプロセスにおける低電力耐ソフトエラー冗長化フリップフロップの設計と実測による評価 |
| 2011 | 山本亮輔 | 回路とレイアウト最適化による多重化フリップフロップのソフトエラー耐性向上手法 |
| 2011 | 籔内 美智太郎 | 再構成可能集積回路における経年劣化現象の解析と回路構造による補償手法 |
| 2010 | 濱中 力 | 耐ソフトエラー多重化フリップフロップのばらつき評価 |
| 年度 | 名前 | タイトル |
| 2022 | 青山 連 | 誤り耐性量子コンピュータ向け復号器の設計 |
| 2022 | 吉田 圭汰 | デバイスシミュレーションによる耐ソフトエラーフリップフロップの耐性評価 |
| 2022 | 熊田 翔 | 回路設計者が行う回路シミュレーション開発フローの検討 |
| 2022 | 山本 和弥 | モデルベース強化学習を用いた二段増幅回路の素子値決定 |
| 2022 | 森 日菜子 | 量子ドリフト拡散モデルによるフォークシート構造の電気特性解析 |
| 2022 | 堀川 輝 | 遺伝的プログラミングを用いた真理値表を満たすデジタル回路の自動合成 |
| 2022 | 細田 光星 | 量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシートデバイスの設計手法の研究 |
| 2022 | 平井 駿三朗 | ナノシート構造に対応した量子閉じ込め効果の理論解析手法の研究 |
| 2022 | 武久 拓未 | 誤点弧防止とデッドタイム損失低減を両立するGaN HEMT向け3レベルゲートドライバ |
| 2022 | 高谷 彩乃 | ファインチューニングを用いた自己符号化器による逐次LSIテストに向けた検討 |
| 2022 | 杉崎 春斗 | 組み合わせ回路と記憶素子で発生するソフトエラーを動的に測定する回路構造の提案 |
| 2022 | 五枝 大典 | 量産LSIテストデータを用いたガウス過程回帰に基づく適応的良品判定法の評価 |
| 2022 | 小澤 太希 | NANDフラッシュメモリにおけるガンマ線によるトータルドーズ効果の実測評価 |
| 2022 | 岩崎 哲朗 | メモリスタを用いた超次元コンピューティング推論アクセラレータの高信頼化に関する検討 |
| 2022 | 伊東 龍平 | 量子ドリフト拡散モデルを用いたナノシートデバイスの実効チャネル幅解析手法の研究 |
| 2021 | 榧木 亮 | 誤点弧対策と損失低減を両立するGaN HEMT向け3レベルゲートドライバの評価 |
| 2021 | 上林 幹宜 | FPGAによるDDR4 DRAMのソフトエラー耐性の実測評価 |
| 2021 | 菊田 大輔 | 65nm FDSOI構造における異なるしきい値電圧とゲート幅を持つMOSFETの経年劣化の実測評価 |
| 2021 | 杉谷 昇太郎 | 65nm bulkプロセスにおける耐ソフトエラーフリップフロップの回路シミュレーションによる耐性評価と改善方法の検討 |
| 2021 | 水嶋 雅駿 | SiCパワーMOSFETのトータルドーズ効果と回復現象のα線による実測評価 |
| 2021 | 美濃 泰英 | 量子ドリフト拡散モデルよるナノシートデバイスの電子濃度分布解析 |
| 2021 | 高西 諒 | 量子ドリフト拡散モデルによるナノシートデバイスのゲート電極材料の検討 |
| 2020 | 木下 友晴 | FPGAとマイコンによる微細プロセスLSIの超長期経年劣化の実測評価 |
| 2020 | 野池 峻平 | アクティブゲートドライバ向けサージ電圧測定用回路の設計と実測評価 |
| 2020 | 伊藤 貴史 | 65 nm Bulkプロセスによる耐ソフトエラーフリップフロップの実測評価 |
| 2020 | 阿部 佑貴 | FiCCを用いた不揮発スタンダードセルメモリの設計と実測評価 |
| 2020 | 小谷 萌香 | TCADを用いた回路とレイアウト構造によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価 |
| 2020 | 高橋 岳大 | 単一の電源と制御信号でマルチレベルのゲート電圧制御が可能なGaN HEMT向けゲートドライバ |
| 2020 | 中島 隆一 | 130 nm bulkプロセスによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測評価とその改善回路の提案 |
| 2020 | 後藤 春樹 | デバイスシミュレーションによるInGaAs-MOSFETの特性解析 |
| 2019 | 南部 玄 | 放射ノイズ低減のためのスナバ回路を用いた降圧型DC-DCコンバータの実測評価 |
| 2019 | 記伊 智也 | 遅延と面積のオーバヘッドの小さいFDSOI向け耐ソフトエラーフリップフロップの実測評価 |
| 2019 | 浦部 孝樹 | SONOS Flashセルを用いた不揮発SRAMの回路シミュレーションによる特性解析 |
| 2019 | 須田 郁生 | 65 nm FDSOI構造における異なるしきい値電圧をもつMOSFETの経年劣化の実測評価 |
| 2019 | 松本 隆洋 | エラー訂正機構を有するSRAM型FPGAのソフトエラー耐性の実測評価 |
| 2018 | 河野雄哉 | SRAM型とフラッシュメモリ型FPGAのソフトエラー耐性の評価 |
| 2018 | 足助拓哉 | 環境変動を打ち消すリングオシレータを用いた経年劣化の実測評価 |
| 2018 | 吉岡大貴 | スナバ回路を用いたソフトスイッチングによる昇圧型DC-DCコンバータの実測評価 |
| 2018 | 吉田高士 | α線による集積回路のトータルドーズ効果と回復現象の実測評価 |
| 2018 | 森風馬 | TCADを用いたFDSOIとbulk構造におけるトランジスタ特性とソフトエラー耐性の比較 |
| 2018 | 長尾詢一郎 | SiCパワーMOSFETのMHzスイッチングに向けた共振型ゲートドライバ |
| 2017 | 榎原 光則 | トランジスタしきい値とプロセスノードによるソフトエラー耐性の実測評価 |
| 2017 | 小島 健太郎 | デバイスシミュレーションを用いたトランジスタしきい値の違いによる静特性とソフトエラー耐性の評価 |
| 2017 | 附田 悠人 | 耐ソフトエラーフリップフロップを用いた宇宙機用高信頼FPGAの検討 |
| 2017 | 中野 洋希 | 低電力で高信頼な長期経年劣化評価用測定系の設計 |
| 2017 | 中村 遥香 | FPGAとマイコンで制御する小型かつ低電力なBTI評価用チップ測定系の定電圧電源回路の検討 |
| 2016 | 山下 夕貴 | Ringing Suppression for MHz-Switching of SiC Power MOSFET |
| 2016 | 亀井 達也 | Matrix Exponential法を用いたパワーMOSFETの過渡解析の高速化 |
| 2016 | 山田 晃大 | TCADを用いたFDSOIプロセスにおける耐ソフトエラー回路構造の評価 |
| 2015 | 駒脇 拓弥 | FDSOI プロセスにおけるアンテナダメージとランダムテレグラフノイズの測定と評価 |
| 2015 | 稲森 奨 | 13.56MHz スイッチング動作に向けた SiC MOSFET と JFET の動特性の評価 |
| 2015 | 丸岡 晴喜 | SOI に適した低消費電力でかつソフトエラーに強靭な FF の提案と評価 |
| 2014 | 一二三 潤 | 28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるソフトエラー測定のためのレーザー照射用シフトレジスタの設計 |
| 2014 | 梅原 成宏 | 28nm UTBB FD-SOI プロセスにおけるソフトエラー耐性の評価 |
| 2014 | 周 瑞 | 高速スイッチングのためのSiCパワー半導体の静特性と動特性の評価 |
| 2013 | 大島 梓 | リングオシレータの発振周波数変動によるアンテナダメージとBTIの実測評価とそのモデル化 |
| 2013 | 山口 潤己 | 回路構造と動作条件によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価 |
| 2013 | 曽根崎 詠二 | リングオシレータ型測定回路を用いた中性子起因SETパルス幅の実測と評価 |
| 2012 | 竹内 克行 | 重イオンカクテルビームを用いた冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の評価 |
| 2012 | 神田 翔平 | 65nm薄膜BOX SOIプロセスによる冗長化FFの設計 |
| 2012 | 岸田 亮 | 表面ポテンシャルモデルを用いたトランジスタの経年劣化の評価 |
| 2012 | 近藤 秀弥 | 65nm薄膜BOX SOIを用いたマイコンチップの設計 |
| 2011 | 村上 賢秀 | 重イオンビームによる冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の評価 |
| 2011 | 谷弘 脩一 | NBTIによるリング型発振器の発振周波数劣化の実測評価 |
| 2011 | 松永 高明(先端技術課程) | オペアンプを用いたヘッドホンアンプの製作と特性評価 |
| 2011 | 万沢 勇貴 | 完全空乏型SOI技術による集積回路のソフトエラー耐性評価 |
| 2010 | 増田政基 | 0.18μmプロセスによる耐ソフトエラーフリップフロップのライブラリ化 |
| 2010 | 松下諒多(先端技術課程) | 様々なデジタルオーディオフォーマットの音質の比較に関する研究 |
| 2010 | 青本和也 | マイコン制御サーボモータによるLSIテスタの遠隔再起動に関する研究 |
| 2010 | 石井翔平 | リングオシレータを用いた商用FPGAのばらつき測定 |
| 2010 | 岡田翔伍 | 信頼性向上を目的とした多重パイプラインプロセッサのLSI実装 |
| 2009 | 久保田勘人 | CMOS0.18μmプロセスによるDUTボード検証兼教育用LSIの設計 |
| 2009 | 森永洋介 | 白色中性子ビームによる加速試験を用いたSRAMソフトエラーの測定および評価 |
| 2009 | 籔内美智太郎 | NBTIによるFPGAの性能劣化モデルの評価 |
| 2009 | 小宮山敦史 | ばらつき評価用リングオシレータTEGの効率的なテスト手法の構築 |