小林研究室 卒業研究報告書/修士論文一覧

博士論文

年度名前タイトル
2015張 魁元A Study to Evaluate and Project Soft Error Tolerance in Radiation-hardened Circuits Using Device and Physical Level Simulations
2014藪内美智太郎Study of Design Methodology of ASIC and FPGA Considering Correlation between Process Variation and BTI-Induced Degradation
2013古田潤 [京都大学博士(情報学)]集積回路におけるシングルイベント効果の評価と ソフトエラー耐性向上手法の提案

修士論文

年度名前タイトル
2016Mo FeiGate Driver with Switched Capacitor for SiC MOSFET at 13.56 MHz ISM Band
2016梅原 成宏PHITS-TCAD による28nm FDSOI と22nm FinFET プロセスにお けるソフトエラー耐性の評価
2016一二三 潤FDSOI プロセスにおけるレイアウ ト構造によるフリップフロップの ソフトエラー耐性の実測と評価FDSOI プロセスにおけるレイアウ ト構造によるフリップフロップの ソフトエラー耐性の実測と評価
2015大島 梓リングオシレータ回路におけるランダムテレグラフノイズの実測・モデル化とアン テナダメージの実測評価
2015山口 潤己65nm薄膜BOX FD-SOIプロセスにおける耐ソフトエラー非冗長化FFの実測と評価
2015 曽根崎 詠二65 nm Thin BOX FD-SOI およびバルクプロセスにおけるシングルイベント効果 の実測と評価
2014岸田 亮薄膜BOX-FDSOIとバルクでのアンテナダメージによる初期および経年劣化の測定と評価
2014神田 翔平28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるFFのソフトエラー耐性評価
2013谷弘 脩一段数・温度・電圧による経年劣化現象の実測とモデル化
2013万沢 勇貴薄膜BOX-SOIとバルクプロセスを用いた耐ソフトエラーフリップフロップの実測と評価
2012張 魁元デバイスシミュレーションによる冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の分析
2012岡田 翔伍一時故障/永久故障に強靭な多重化パイプラインプロセッサの設計
2012久保田勘人65nmプロセスにおける低電力かつ省面積な耐ソフトエラーフリップフロップの設計と評価
2012石井 翔平再構成可能集積回路の製造時のばらつきと温度と電圧で加速させた条件でのBTI による経年劣化の実測評価
2012増田 政基65 nmプロセスにおける低電力耐ソフトエラー冗長化フリップフロップの設計と実測による評価
2011籔内 美智太郎再構成可能集積回路における経年劣化現象の解析と回路構造による補償手法
2011山本亮輔回路とレイアウト最適化による多重化フリップフロップのソフトエラー耐性向上手法
2010濱中 力耐ソフトエラー多重化フリップフロップのばらつき評価

卒業研究報告書

年度名前タイトル
2016亀井 達也Matrix Exponential法を用いたパワーMOSFETの過渡解析の高速化
2016山下 夕貴Ringing Suppression for MHz-Switching of SiC Power MOSFET
2016山田 晃大TCADを用いたFDSOIプロセスにおける耐ソフトエラー回路構造の評価
2015駒脇 拓弥FDSOI プロセスにおけるアンテナダメージとランダムテレグラフノイズの測定と評価
2015稲森 奨13.56MHz スイッチング動作に向けた SiC MOSFET と JFET の動特性の評価
2015丸岡 晴喜 SOI に適した低消費電力でかつソフトエラーに強靭な FF の提案と評価
2014周 瑞高速スイッチングのためのSiCパワー半導体の静特性と動特性の評価
2014一二三 潤28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるソフトエラー測定のためのレーザー照射用シフトレジスタの設計
2014梅原 成宏28nm UTBB FD-SOI プロセスにおけるソフトエラー耐性の評価
2013大島 梓リングオシレータの発振周波数変動によるアンテナダメージとBTIの実測評価とそのモデル化
2013曽根崎 詠二リングオシレータ型測定回路を用いた中性子起因SETパルス幅の実測と評価
2013山口 潤己回路構造と動作条件によるフリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2012近藤 秀弥65nm薄膜BOX SOIを用いたマイコンチップの設計
2012竹内 克行重イオンカクテルビームを用いた冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2012岸田 亮表面ポテンシャルモデルを用いたトランジスタの経年劣化の評価
2012神田 翔平65nm薄膜BOX SOIプロセスによる冗長化FFの設計
2011谷弘 脩一NBTIによるリング型発振器の発振周波数劣化の実測評価
2011村上 賢秀重イオンビームによる冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の評価
2011松永 高明(先端技術課程)オペアンプを用いたヘッドホンアンプの製作と特性評価
2011万沢 勇貴完全空乏型SOI技術による集積回路のソフトエラー耐性評価
2010岡田翔伍信頼性向上を目的とした多重パイプラインプロセッサのLSI実装
2010青本和也マイコン制御サーボモータによるLSIテスタの遠隔再起動に関する研究
2010増田政基0.18μmプロセスによる耐ソフトエラーフリップフロップのライブラリ化
2010松下諒多(先端技術課程)様々なデジタルオーディオフォーマットの音質の比較に関する研究
2010石井翔平リングオシレータを用いた商用FPGAのばらつき測定
2009小宮山敦史ばらつき評価用リングオシレータTEGの効率的なテスト手法の構築
2009久保田勘人CMOS0.18μmプロセスによるDUTボード検証兼教育用LSIの設計
2009籔内美智太郎NBTIによるFPGAの性能劣化モデルの評価
2009森永洋介白色中性子ビームによる加速試験を用いたSRAMソフトエラーの測定および評価