第2回ソフトエラー勉強会スライド集

1. (招待講演)「ガンマ線による放射線効果 」, 小野田忍(JAEA)
2. (招待講演)「大規模計算機向け半導体デバイスにおけるソフトエラー -最高レベルの信頼性を求めて-」, 上村大樹(富士通)
3. (国際会議報告) 「SELSE8, IOLTS2012」, 伊部英史(日立)
4. (国際会議報告) 「RADECS2011報告」, 小野田忍(JAEA)
5. (招待講演) 「ソフトエラー耐性をもつディペンダブルFPGAアーキテクチャ」 尼崎太樹(熊本大)
6. (IRPS2012) 「中性子起因SETのスケーリング効果と回路種依存」 中村英之(ルネサス)
7. (招待講演) 「SOIデバイスにおける放射線効果」, 小林大輔(JAXA), Q and A
8. (IRPS2012より) 「マルチスケールモンテカルロシミュレーション手法を用いた4世代のMOSFETに関する宇宙線中性子起因ソフトエラーシミュレーション」 安部晋一郎(九大)
9. (IRPS2012/IOLTS2012) 「マルチビットアップセット耐性を有する 6T SRAMセルレイアウト （IRPS2012）, PHITSを用いたマルチビットアップセットシミュレーション技術開発 (IOLTS2012)」 吉本秀輔(神大)
10. (国際会議報告) 「Architectural Methods to Understand Soft Errors/Process Variations in DSN2012」, 姚 駿(奈良先端大)
11. (国際会議報告) 「IRPS2012」, 小林 和淑(京都工繊大)
12. (国際会議報告) 「NSREC2012」 小林大輔(JAXA), NSREC2012その2, NSREC2012論文概要 by 小林和淑(京都工繊大)
13. 「RADECS2012 RADGROUND」 伊部英史(日立)