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受賞

受賞一覧

システムとLSIのワークショップ2017 学生部門優秀賞
"FDSOIにおける非多重化耐ソフトエラーFFの設計と評価", 山田晃大,丸岡晴喜,古田潤,小林和淑(2017年5月17日受賞)
電子情報通信学会 第29回回路とシステムワークショップ 奨励賞
"65nm FDSOIプロセスにおけるランダムテレグラフノイズの測定と評価", 駒脇拓弥, 大島梓, 岸田亮, 小林和淑(2017年5月11日受賞)
COOL Chips 20 Best Poster Award
Kodai Yamada, Haruki Maruoka, Jun Furuta, Kazutoshi Kobayashi, (2017年4月21日受賞http://www.coolchips.org/2017/
IEEE EDS Kansai Chapter MFSK Award
Negative Bias Temperature Instability Caused by Plasma Induced Damage in 65 nm Bulk and Silicon On Thin BOX (SOTB) Processes in IRPS 2015, Ryo Kishida (2017年1月30日受賞), MFSK_2017_kishida.pdf(77)
情報処理学会 システムとLSI設計技術研究会 優秀学生発表賞
"65nmバルクおよびSOTBプロセスでのアンテナ比による製造時劣化の測定と評価", 岸田 亮, 小林和淑(2016年9月14日受賞)
情報処理学会 システムとLSI設計技術研究会 優秀論文賞
"65nmバルクおよびSOTBプロセスでのアンテナ比による製造時劣化の測定と評価", 岸田 亮, 小林和淑(2016年9月14日受賞)
情報処理学会 システムとLSI設計技術研究会 優秀発表学生賞
"リングオシレータの発振周波数測定から求めたアンテナダメージによる初期および経年劣化評価" 岸田亮、大島梓、籔内美智太郎、小林和淑 (2015年8月27日受賞)
情報処理学会 システムとLSI設計技術研究会 優秀発表学生賞
"リング型発振器の経年劣化と特性ばらつきの相関の評価" 籔内美智太郎、岸田亮、大島梓、小林和淑 (2015年8月27日受賞)
情報処理学会 システムとLSI設計技術研究会 優秀発表学生賞
"65nm薄膜 BOX-SOI とバルクプロセスにおける SET パルス幅の電圧依存性の評価" 曽根崎詠二・古田 潤・小林和淑 (2015年8月27日受賞)
電子情報通信学会 優秀リコンフィギャラブルシステム論文賞
"Reliability-Configurable Mixed-Grained Reconfigurable Array Supporting C-Based Design and Its Irradiation Testing" Hiroaki Konoura, Dawood Alnajjar (Osaka Univ.), Yukio Mitsuyama (Kochi Inst. Tech), Hajime Shimada(Nagoya U.), Kazutoshi Kobayashi (Kyoto Inst. Tech.), Hiroyuki Kanbara (ASTEM), Hiroyuki Ochi (Ritsumeikan U.), Takashi Imagawa, Kazutoshi Wakabayashi (NEC), Masanori Hashimoto, Takao Onoye (Osaka U.), Hidetoshi Onodera(Kyoto Univ.) (2015年6月19日受賞)
VDECデザインアワード優秀賞
神田翔平,大島梓 (2014/8/29) http://www.vdec.u-tokyo.ac.jp/designAward/welcome.html
Best Poster Paper Award of 2013 International Reliability Physics Symposium
"Contributions of Charge Sharing and Bipolar Effects to Cause or Suppress MCUs on Redundant Latches" by K. Zhang and K. Kobayashi (2014/06/03受賞)
電子通信情報学会 基礎・境界ソサイエティ 編集活動感謝状
小林和淑(2013/9/18受賞
電子通信情報学会 基礎・境界ソサイエティ 貢献賞
小林和淑(2012/9/12受賞
電子情報通信学会 学術奨励賞
D2 籔内美智太郎 (2012/3/21受賞)
情報処理学会 システムLSI設計技術研究会 優秀論文賞
"SETパルスによる誤動作を防止する遅延挿入フリップフロップのソフトエラー耐性の検討" 小林和淑 (2009/8/26受賞
電子情報通信学会 論文賞
"A 90nm 48x48 LUT-based FPGA Enhancing Spped and Yield Utilizing WIthin-Die Delay Variations" by K.Kobayashi et.al. (2009/5/23受賞)

受賞届け

http://www.kit.ac.jp/campus_index/life_fee/report/