第8回ソフトエラー(などの半導体の放射線効果)勉強会(ソフトエラーワークショップ)

ソフトエラーなどの半導体における放射線効果を研究している企業/公機関/大学の研究者によるワークショップを表記の通りオンラインにて開催致します.

ソフトエラー測定方法の標準化を目的の1つとしたQiSS (安心・安全・スマートな長寿社会実現のための高度な量子アプリケーション技術の創出のためのコンソーシアム) が2017年10月より立ち上がりました.詳細はこちらをご覧ください.

目的:
国内のソフトエラーなどの半導体における放射線効果に関する研究者間の情報交換, 懇親.

日時
2021年9月7日(火) 13:00-17:20 (予定)

開催形態
オンライン (Webexで実施予定)

参加申し込み

こちらからお願いします. 申込締切を2021/9/3(金)とさせていだきます. 会社からのセキュリティポリシーのため,Google Docsにアクセスできない方は,
メールアドレス
ご氏名
ご所属
ser2021@vlsi.es.kit.ac.jp までお送りください.

プログラム(仮)

13:00-13:05 オープニング
13:05-13:45 EUV 7nm バルク FinFETプロセスのFFのソフトエラー耐性, 上村大樹(サムスン)
13:45-14:10 SRAM FPGAに実装した白線追跡に基づく自動運転ロボットのソフトエラー信頼性評価, 廖 望(高知工科大)
14:10-14:20 休憩
14:20-15:00 飛行時間法を用いたSEUクロスセクションの中性子エネルギー依存性測定, 岩下秀徳(NTT宇宙環境エネルギー研究所)
15:00-15:25 RCNP改修計画の進捗状況と今後の見通し,福田光宏(大阪大学RCNP)
15:25-15:35 休憩
15:35-16:15 JAXAより
16:15-16:40 "Processor SER Estimation with ACE Bit Analysis,"  T. Hsu, D. Yang, W. Liao, M. Itoh, M. Hashimoto, , and J. Liou,, Proceedings of  European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)発表予定.
16:40-17:15 医療⽤炭素線ビームの⼆次粒⼦により発⽣する電⼦機器のソフトエラーの実測評価, 松本隆洋(京都工繊大),酒井真理(群馬大),小林和淑(京都工繊大)
17:15-17:20 クロージング

これまでのプログラム等

過去の開催プログラム等はこちらをご覧ください.
主催: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻 電子回路工学講座 協賛: QiSS (安心・安全・スマートな長寿社会実現のための高度な量子アプリケーション技術の創出)

問い合わせ先: ser2021@vlsi.es.kit.ac.jp