講演スライド
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オープニング，クロージング
EUV 7nm バルク FinFETプロセスのFFのソフトエラー耐性
SRAM FPGAに実装した白線追跡に基づく自動運転ロボットのソフトエラー信頼性評価
飛行時間法を用いたSEUクロスセクションの中性子エネルギー依存性測定
RCNP改修計画の進捗状況と今後の見通し
JAXA・イノベーションハブにおける共同研究について
Processor SER Estimation with ACE Bit Analysis
医療⽤炭素線ビームの⼆次粒⼦により発⽣する電⼦機器のソフトエラーの実測評価