集積回路の信頼性に関する招待講演

RTN, BTIなどの信頼性の研究の第一人者として著名な，TU WienのTibor Grasser教授と，京都大学の佐藤高史教授を招いて，招待講演を企画いたしました．Tibor教授には，BTI, RTN, Hot Carrier劣化といった最近の信頼性を揺るがす話題についてわかりやすくチュートリアル講演をしていただきます．集積回路の信頼性に関してご興味のある方の参加を歓迎致します．
場所
京都工芸繊維大学60周年記念館1階　記念ホール（京都市左京区松ケ崎，地下鉄松ケ崎駅徒歩10分）キャンパスマップ (中央東門の右下です)
日時
2015年8月24日(月)　15:00-17:10 (予定)
共催
IEEE SSCS Kansai Chapter
参加費
無料
内容
(講演タイトルはスライドへのリンクです．スライドにはパスワードを付加しています．パスワードは参加者にお知らせします．)
  1. 15:00-16:15 "[Tutorial] Oxide Defects in MOS Transistors: Characterization and Modeling", Prof. Tibor Grasser (TU Wien, IEEE EDS Distinguished Lecturer)
  2. 16:25-17:10 "Transient device-performance fluctuation: efficient measurement and simulation (Tentative)", Prof. Takashi Sato (Kyoto Univ.)

問合先
京都工芸繊維大学 電子システム工学専攻 小林和淑 (kobayasi@vlsi.es.kit.ac.jp, TEL: 075-724-7452)
Last modified: Mon Aug 24 13:14:30 JST 2015