8/28 (月) 13:20 オープニング セッション1 座長 小林和淑 (京都工芸繊維大学) 13:30-14:30 キーノート講演「半導体のいま，未来」 上村大樹 14:30-15:00 招待講演1 「低エネルギー中性子によるシステム評価方法」日立製作所 上薗 巧 15:00-15:20 休憩(企業展示) セッション2 座長 加藤 貴志 (ソシオネクスト) 15:20-16:00 招待講演2 「通信装置のソフトエラー試験と標準化」 NTT 岩下 秀徳 16:00-16:40 招待講演3 「強力なソフトエラー耐性の汎用低消費電力SRAMと実証評価」ルネサスエレクトロニクス 広瀬 愛彦，牧 幸生 16:40-17:40 企業展示とポスターセッション 18:00-20:00 懇親会 8/29 (火) セッション3 座長 橋本昌宜 (大阪大学) 09:00-09:40 招待講演4 「半導体ソフトエラーの国際基準」 ソシオネクスト 松山 英也 09:40-10:20 招待講演5 「ミューオン誘起ソフトエラー：発生機構と国内初の加速試験」九州大学 渡辺 幸信 10:20-10:40 休憩 セッション4 座長 熊代 成孝 (京都工芸繊維大学) 10:40-11:10 招待講演6 「航空機高度での半導体装置放射線照射効果評価・対策のIEC国際標準化動向および関連する中国の研究開発最新情報」エクサパレット 伊部 英史，HIREC 浅井 弘彰 11:10-11:50 招待講演7 「阪大RCNPにおける白色中性子源と加速器アップグレード計画」大阪大学 福田 光宏 11:50-12:00 クロージング
難波一輝・上野弘貴・堀田奈央(千葉大学) DICE構造を元にした耐エラーラッチへの放射線照射実験の評価 小林和淑(京都工芸繊維大学) A 16 nm FinFET Radiation-hardened Flip-Flop, Bistable Cross-coupled Dual-Modular-Redundancy FF for Terrestrial and Outer-Space Highly-reliable Systems Wang LIAO（大阪大学） Multiple Sensitive Volumes Based Upset Classifier for SER estimation 真鍋征也（九州大学） UTBB-SOI SRAMに対する低エネルギー正負ミュオン誘起SEU断面積の測定 丸岡晴喜（京都工芸繊維大学） 耐放射線集積回路の重イオンビーム照射測定 山田晃大（京都工芸繊維大学） Influence of Layout Structures to Soft Errors Caused by Higher-energy Particles on 28/65 nm FDSOI Flip-Flops 田島咲季（早稲田大学） C-elementを用いた耐ソフトエラーラッチの設計講演スライド
講演者よりお送りいただいたスライドより順次 こちらからパスワード付きのPDFとしてをダウンロード可能とします．パスワードは参加者のみにお知らせ致します． Googleドライブにアクセスできない方のため，全講演資料が集まり次第，このサイトでもダウンロードできるようにする予定です． 過去の開催プログラム等はこちらをご覧ください．
主催: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻 小林研究室協賛: IEEE SSCS Kansai Chapter
Last modified: Tue Aug 29 11:38:24 JST 2017