神田翔平(京都工芸繊維大学) 28nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるフリップフロップのソフトエラー耐性評価
山口潤己(京都工芸繊維大学　電子システム工学専攻　小林研究室) 65nmプロセスにおける回路およびレイアウト構造の相違によるソフトエラー耐性の評価
作田　賢志朗(九州大学) 薄膜BOX-SOIデバイスに対するα線誘起ソフトエラーの解析
井辻　宏章(宇宙航空研究開発機構/東京大学大学院) 二光子吸収過程を用いたSi PINフォトダイオードの評価
藤澤賢太郎(熊本大学) スペア領域を利用したＦＴ−ＦＰＧＡ向け故障検出機構
曽根崎詠二(京都工芸繊維大学) リングオシレータ型SET測定回路とシフトレジスタを用いた65nmFD-SOIとバルクプロセスにおけるソフトエラー耐性の評価
松葉　大空(九州大学) ミュオン誘起ソフトエラー現象の予備的解析