第3回ソフトエラー勉強会スライド集

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  1. 基調講演「最新ソフトエラー対策技術と今後の展望」, 上村大樹(富士通)
  2. "Perturbation-Immune Radiation-Hardened PLL with a Switchable DMR structure", SinNyoung Kim (Kyoto University)
  3. "A Two-Order Increase in Robustness of Partial Redundancy Under Radiation Stress Test by Using SDC Prediction", Tanvir Ahmed(Nara Institute of Science & Technology)
  4. 国際会議報告 SELSE9 IOLTS2013, 伊部英史 (日立製作所)
  5. 国際会議報告 RADECS2012(RADGROUND), 小林和淑(京都工芸繊維大学)
  6. 招待講演「エラートレラントアプリケーション指向設計」 井上智生, 市原 英行 (広島市立大学)
  7. "宇宙線中性子起因ソフトエラー解析に関する研究 -種々の要因が解析結果へ及ぼす影響評価-", 安部晋一郎 (九州大学)
  8. "多ビットエラーのラッチ間距離依存性の評価", 古田　潤(京都大学)
  9. 国際会議報告 IRPS2013報告(ソフトエラーセッション), 上村大樹(富士通セミコンダクタ)
  10. 国際会議報告 NSREC2013報告，浅井弘彰（HIREC)