ソフトエラー勉強会2012 プログラム案 2012/08/22 Version
   2012/08/27(月) 13:00-19:00 
   2012/08/28(火)  9:00-16:50 
   開催場所: 福岡システムLSI総合開発センター 2F 会議室A＋B
                     814-0001　福岡県福岡市早良区百道浜3-8-33
                    (宿泊は中州川端付近がおすすめ)

◇ ポスターセッション
・サイズ: A1
・備考: ポスターを貼るためのB1カラーボードと押しピンを準備しています．
◇ 懇親会
・参加費: 一般4000円, 学生2000円
勉強会当日，申し込みをお願いします．


2012/08/27(月) 13:00-19:00 


13:00-15:10 セッション1 座長 小林和淑(京都工繊大)
13:00-13:10 開会の挨拶
   上村大樹(富士通)/小林和淑(京都工繊大)
13:10-14:10 (招待講演)「ガンマ線による放射線効果」
    小野田忍(JAEA)
14:10-15:10 (招待講演)「大規模計算機向け半導体デバイスにおけるソフトエラー
-最高レベルの信頼性を求めて-」
    上村大樹(富士通)
15:10-15:30 休憩

15:30-17:00 セッション2 座長 橋本昌宜(阪大)

15:30-16:00 (RADECS2012)「65 nmプロセスによる低消費電力かつソフトエラーに強靭なFFの設計と評価」
    増田政基(京都工繊大)
16:00-16:40 (国際会議報告) 「SELSE8, IOLTS2012」
   伊部英史 (日立)
16:40-17:00 (国際会議報告) 「RADECS2011報告」
   小野田忍(JAEA)  
17:00-17:15 休憩
17:15-19:00 ポスターセッション+懇親会 (会費 社会人4000円, 学生2000円)
            福岡システムLSI総合開発センター4F 交流サロン
ポスター
"Modeling of Single-Event Failures in Divider and PFD of PLLs based on Jitter Analysis", SinNyoung KIM (Kyoto University)
"FPGA実装回路のソフトエラー耐性評価に向けた部分再構成によるフォルト注入解析手法", 一ノ宮佳裕 (熊本大学)
"ソフトエラー耐性を持ったラッチ回路の信頼性評価", 矢野憲 (福岡大学) 
"宇宙線中性子起因ソフトエラーに関するマルチセルアップセット解析", 安部晋一郎 (九州大学) 
"Angular Dependency of Neutron Induced Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM", 原田諒 (大阪大学)
"SOI-PLLの放射線耐性の評価", 星野英二郎 (東京大学) 
"有感領域モデルを用いた宇宙線陽子起因SEUに関するシミュレーション", 海汐寛史 (九州大学)
"ソフトエラーの伝播解析を目的とした効率的な故障シミュレーションのアルゴリズムについて", 高田大河 (九州大学)

20:30-  2次会 (中州川端付近にて, 詳細は当日連絡)

2012/08/28(火) 9:00-16:30

9:00-10:00 セッション3 座長 上村大樹(富士通)

9:00-10:00 (招待講演) 「ソフトエラー耐性をもつディペンダブルFPGAアーキテクチャ」
    尼崎太樹(熊本大)
10:00-10:30 (IRPS2012) 「中性子起因SETのスケーリング効果と回路種依存」
    中村英之(ルネサス)
10:30-10:40 休憩

10:40-11:40 セッション4  座長 小野田 忍(JAEA)
10:40-11:10 (IRPS2012/IOLTS2012) 「マルチビットアップセット耐性を有する 6T SRAMセルレイアウト （IRPS2012）, 
             PHITSを用いたマルチビットアップセットシミュレーション技術開発 (IOLTS2012)」
    吉本秀輔(神大)
11:10-11:40 (IRPS2012/NSREC2012) 「中性子線衝突による基板電位の変動とフリップフロップにおける多ビットエラーの相関の評価」
    古田 潤 (京大)

11:40-12:40 昼食 

12:40-14:40 セッション5 座長 小野寺秀俊(京大)
12:40-13:40 (招待講演) 「SOIデバイスにおける放射線効果」
    小林大輔(JAXA)
13:40-14:10 (IRPS2012より) 「マルチスケールモンテカルロシミュレーション手法を用いた4世代のMOSFETに関する宇宙線中性子起因ソフトエラーシミュレーション"」
    安部晋一郎(九大)
14:10-14:40 (RADECS2012) 「Impact of NBTI-Induced Pulse-Width Modulation on SET Pulse-Width Measurement」
    原田 諒(阪大)
14:40-15:00 休憩

15:00-16:20 セッション6 座長 渡辺幸信(九大)
15:00-15:20 (国際会議報告) 「Architectural Methods to Understand Soft Errors/Process Variations in DSN2012」
    姚 駿(奈良先端大)
15:20-15:40 (国際会議報告) 「IRPS2012」
   小林 和淑(京都工繊大)
15:40-16:00 (国際会議報告) 「EDA関連」
    松永裕介(九大)
16:00-16:20 (国際会議報告) 「NSREC2012」
    小林大輔(JAXA)
16:20-16:50 Wrap-up
   RASEDA2012 宣伝 小野寺秀俊(京大)
   RADECS2012 RADGROUND 宣伝 伊部英史(日立)
   次回の開催場所検討等